差分探头与普通探头：寄生电容的差异解析

　　差分探头(Differential Probe)和普通探头(Single-Ended Probe)在设计和用途上有很大的不同，其中之一就是它们对寄生电容的处理。

　　差分探头设计用来测量两个点之间的电压差，例如差分信号或差分对。它们通常具有以下特点，这些特点有助于减小寄生电容：

　　1. 差分输入：差分探头测量两个输入之间的电压差，而不是相对于地的电压。这种设计减少了地回路的影响，从而降低了由于地线引起的寄生电容。

　　2. 屏蔽：差分探头通常具有更好的屏蔽设计，以减少外部电磁干扰(EMI)和降低探头与被测电路之间的寄生电容。

　　3. 低容性负载：差分探头设计为对被测电路的容性负载尽可能小，这意味着探头的输入电容很低，从而减少了寄生电容的影响。

　　4. 高阻抗：差分探头通常具有高输入阻抗，这有助于减少电流流过探头时产生的电容效应。

　　普通探头(单端探头)通常测量相对于地的电压，这可能导致以下问题：

　　地回路：单端探头需要连接到地，这可能会引入地回路问题，增加寄生电容。

　　电磁干扰：单端探头可能更容易受到外部电磁干扰的影响，这可能需要更复杂的屏蔽来减少寄生电容。

　　容性负载：单端探头可能对被测电路的容性负载更大，这会增加寄生电容的影响。

　　总的来说，差分探头通过其设计和用途的特殊性，能够更有效地减少寄生电容，从而提供更准确的测量结果，特别是在高频和敏感的差分信号测量中。

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