有源探头的负载效应，怎么测量？大概是什么量级？

　　有源探头的负载效应是指由于测试设备(如万用表、示波器等)对被测电路产生的影响，可能会改变被测电路的性能或测量结果。为了准确测量被测电路的特性，需要考虑和补偿这种负载效应。

　　测量有源探头的负载效应可以采取以下步骤：

　　1. 将有源探头连接到被测电路上。

　　2. 连接测试设备(如万用表、示波器等)以测量被测电路的特性。

　　3. 测量被测电路在有源探头连接时的特性或信号响应。

　　4. 移除有源探头，重新测量被测电路的特性或信号响应。

　　5. 比较两次测量结果，分析有源探头对被测电路的影响。

　　有源探头的负载效应通常是通过插入损耗(Insertion Loss)或输入电阻(Input Impedance)来描述的。插入损耗是指有源探头与被测电路之间的信号功率损耗，输入电阻是指有源探头对信号源的电阻。

　　测量结果的量级取决于具体的有源探头和被测电路。不同型号和规格的有源探头在尺寸、频率响应、电阻等方面会有差异，因此负载效应的量级也会有所不同。一般来说，有源探头的负载效应可以通过厂家提供的技术指标获得，以确定最终的测量误差范围。

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