LANGER近场探头
该近场探测器用于研发过程中的干扰发射测量。
无源低频LF系列(100 kHz - 50 MHz)
LF 1近场探头组包含4个屏蔽无源近场探头，用于在研发阶段测量电子模块上长波、中波和短波区的射频磁场。使用LF 1探头组的探头，可以逐步定位集成电路上的干扰放射源。首先使用探头LF-R400从远距离探测模块的干扰发射情况，接下来再用更高分辨率的探头LF-B 3、LF-U 5和LF-U 2.5对干扰源进行更精确的定位。采用这些探头可以测量单个引脚、较大元件和结构件。这些近场探头小巧轻便，并采用外皮电流衰减和电屏蔽设计。这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部没有50Ω的终端阻抗。
无源RF系列(30 MHz - 3 GHz)
RF探头是无源近场探头，用于在电子模块研发阶段进行磁场测量，覆盖频率范围为30MHz到3GHz。探头的组合完全符合客户的需求。
无源XF系列(30 MHz - 6 GHz)
XF系列探头包含4个无源磁场探头和3个无源磁场探头，用于在电子模块研发阶段进行磁场和磁场的测量，覆盖频率范围为30MHz到6GHz。这种探头内置阻抗器匹配，从而与其他喷嘴(如RF型喷嘴)相比在低频区域较不敏感。由于其频率范围宽并包含从很大到颗粒尺寸的各种喷嘴，因而涉及广泛的应用。喷嘴的组合完全符合客户的需求XF系列的探头可以用于查找阶梯模块的干扰场源。建议，首先使用我们的高灵敏度探头从远距离查找模块的干扰辐射源，然后再用更高精度的探头进一步精确定位干扰源。通过相应地操作近场拾音，能够测量出电磁场的方向及其分布。这种近场拾音紧凑，并采用外部电流皮衰减。磁场拾音采用电衰减设计。这种近场拾音可以拾取音色分析仪。或USB的50Ω输入端。这些近场铲的内部安装有电阻。
无源SX系列(1 GHz - 20 GHz)
SX近场探头组包含2个无源近场探头，用于在研发阶段以高时钟频率测量电子模块上的电场和磁场，频率范围为1GHz到10GHz。SX探头组的探头可以紧贴电子模块进行测量，比如贴近单个集成电路引脚、导线、元件及其连接点，从而定位干扰信号源。通过相应地操作近场探头，能够测量出电子模块上电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并具备外皮电流衰减和电屏蔽。这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部有一个终端电阻。
HR系列，无源，高达 40 GHz
HR 系列由 H 场探头和 E 场探头组成，用于在开发过程中测量高达 40 GHz 的高频 RF 场。
有源MFA系列(1 MHz -6 GHz)
该微型探头可以精确测量电路布局、最小的SMD-元器件(0603-0201)以及平面电路板的IC引脚等的高频磁场。这种探头是有源探头，采用电屏蔽设计，具有外皮电流衰减性能。借助校正曲线可以将探头的输出电压换算为对应的磁场或者导线的电流。该近场探头通过BT 706型偏置器连接到频谱分析仪或者示波器的50Ω输入端。通过标准配置中包含的外接电源适配器和偏置器，可以为内置在探头中的前置放大器供电。
